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Artículos Regulares


Rev. LatinAm. Metal. Mat. 2015, 35(1): 110-117

X-RAY POWDER DIFFRACTION DATA AND RIETVELD REFINEMENT OF THE TERNARY SEMICONDUCTOR CHALCOGENIDES AgInSe2 AND AgInTe2
(DATOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS-X Y REFINAMIENTO RIETVELD DE LOS SEMICONDUCTORES CALCOGENUROS TERNARIOS AgInSe2 Y AgInTe2)

Gerzon E. Delgado, Asiloé J. Mora, Carlos Pineda, Rosario Avila-Godoy, Solange Paredes-Dugarte

Online: 21-07-2014

GA-546

Abstract


The ternary chalcogenides AgInSe2 and AgInTe2 were studied by X-ray powder diffraction structure refinement using the Rietveld method. Both compounds crystallizes with a chalcopyrite structure in the space group I2d (N° 122), Z = 4, and unit cell parameters a = 6.0988(2) Å, c = 11.7086(6) Å, V = 435.51(3) Å3 for AgInSe2 and a = 6.4431(4) Å, c = 12.6362(9) Å, V = 524.57(6) Å3 for AgInTe2. Improved X-ray powder diffraction data are reported with figures of merit M19 = 84.0, F19 = 40.7 (0.0071, 66) for AgInSe2, and M20 = 80.8, F23 = 39.0 (0.0075, 79) for AgInTe2.

Los calcogenuros ternarios AgInSe2 y AgInTe2 se estudiaron mediante refinamiento Rietveld utilizando datos de difracción de rayos-X en muestras policristalinas. Ambos compuestos cristalizan con una estructura tipo calcopirita en el grupo espacial I2d, (N° 122), Z = 4, y parámetros de celda unidad a = 6.0988(2) Å, c = 11.7086(6) Å, V = 435.51(3) Å3 para AgInSe2 y a = 6.4431(4) Å, c = 12.6362(9) Å, V = 524.57(6) Å3 para AgInTe2. Se reportan mejores datos de difracción de polvo con figuras de mérito M19 = 84.0, F19 = 40.7 (0.0071, 66) para AgInSe2, y M20 = 80.8, F23 = 39.0 (0.0075, 79) para AgInTe2.


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