X-RAY POWDER DIFFRACTION DATA AND RIETVELD REFINEMENT OF THE TERNARY SEMICONDUCTOR CHALCOGENIDES AgInSe2 AND AgInTe2

Autores/as

  • Gerzon E. Delgado Laboratorio de Cristalografía, Departamento de Química, Facultad de Ciencias, Universidad de Los Andes, Mérida, Venezuela
  • Asiloé J. Mora Laboratorio de Cristalografía, Departamento de Química, Facultad de Ciencias, Universidad de Los Andes, Mérida, Venezuela
  • Carlos Pineda Núcleo Universitario Alberto Adriani, Universidad de Los Andes, El Vigí­a, Venezuela
  • Rosario Avila-Godoy Laboratorio de Análisis Químico y Estructural de Materiales, Departamento de Física, Facultad de Ciencias, Universidad de Los Andes, Mérida, Venezuela
  • Solange Paredes-Dugarte Laboratorio de Caracterización de Materiales, Instituto de Investigaciones en Biomedicina y Ciencias Aplicadas, Universidad de Oriente, Cumaná Venezuela

Resumen

Los  calcogenuros  ternarios  AgInSe2  y  AgInTe2  se  estudiaron  mediante  refinamiento  Rietveld  utilizando  datos  de difracción de rayos-X en muestras policristalinas. Ambos compuestos cristalizan con una estructura tipo calcopirita en el grupo espacial I 4 2d, (N° 122), Z = 4, y parámetros de celda unidad a = 6.0988(2) Å, c = 11.7086(6) Å, V = 435.51(3) Å3 para  AgInSe2  y  a  =  6.4431(4)  Å,  c  =  12.6362(9)  Å,  V  =  524.57(6)  Å3  para  AgInTe2.  Se  reportan  mejores  datos  de difracción  de  polvo  con  figuras  de  mérito  M19  =  84.0,  F19  =  40.7  (0.0071,  66)  para  AgInSe2,  y  M20  =  80.8,  F23  =  39.0 (0.0075, 79) para AgInTe2.

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Publicado

2014-07-21

Cómo citar

Delgado, G. E., Mora, A. . J., Pineda, C., Avila-Godoy, R., & Paredes-Dugarte, S. (2014). X-RAY POWDER DIFFRACTION DATA AND RIETVELD REFINEMENT OF THE TERNARY SEMICONDUCTOR CHALCOGENIDES AgInSe2 AND AgInTe2. Revista Latinoamericana De Metalurgia Y Materiales, 110–117. Recuperado a partir de https://www.rlmm.org/ojs/index.php/rlmm/article/view/546

Número

2015, 35(1)

Sección

Artí­culos Regulares

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