[1]
G. E. Delgado, A. . J. Mora, C. Pineda, R. Avila-Godoy, y S. Paredes-Dugarte, «X-RAY POWDER DIFFRACTION DATA AND RIETVELD REFINEMENT OF THE TERNARY SEMICONDUCTOR CHALCOGENIDES AgInSe2 AND AgInTe2», Rev. LatinAm. Metal. Mater., pp. 110–117, jul. 2014.