ANALISISDE PERFILES DE DIFFRACCIÓN DE RAYOS X DE DOS MATERIALES METALICOS

Resumen

En  el  presente  trabajo  se  hace  una  revisión  de  dos  métodos  sencillos  de  análisis  de  perfiles  de  difracción  de rayos x, debido a que son una poderosa herramienta para la caracterización de la estructura de los materiales. Se analizan y discuten los métodos tradicionales y  modificados de Williamson-Hall y Warren Averbach con sus modelos  de  deformación.  También  se  discuten  los  métodos  para  obtener  la  probabilidad  de  fallas  de apilamiento,  energía  de  falla  apilamiento,  factores  de  contraste  de  dislocaciones  promedio  y  funciones  de distribución de tamaños de cristalitas. Finalmente, como ejemplo, los métodos son aplicados a dos materiales, una  aleación  Cu-5%  en  masa  de  Cr  procesada  por  aleado  mecánico  y  a  un  acero  al  manganeso  obtenido  por fusión convencional y sometido a diferentes grados de compresión en frío.